受约束基线尺寸标注

“受约束基线”模式可用于创建一系列连接的受约束尺寸标注线,每个线段用于测量从最初的起点(基点)计起的距离。

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如要创建一系列受约束基线尺寸标注线:

1. 单击相应工具集/面板中的受约束线性尺寸标注工具,然后选择受约束基线模式。

     所有工作空间:“尺寸标注/备注”工具集

     Spotlight:“基本”工具面板

2. 单击以设置测量起点。

3. 单击以设置第一个测量的终点。

4. 将光标移离对象,移至所需的偏移位置。

在二维视图中,尺寸标注线预览被约束为与图层平面的 X 轴或 Y 轴平行。在三维视图中,前两次单击用于确定要在其上放置尺寸标注的平面的 X 轴;移动光标可以视需要旋转尺寸标注平面。尺寸标注平面可以平行或垂直于图层平面,或对齐正被尺寸标注的三维对象的相邻面。

5. 单击以放置第一条尺寸标注线。

6. 将光标移至下一条线段的端点并单击以设置其端点。

7. 继续设置线段。

8. 双击以结束基线标注。

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受约束线性尺寸标注

 

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