受约束的基线模式可用于创建一系列连接的尺寸标注线，每个线段用于测量从最初的起点（基点）计起的距离。
如要创建一系列受约束基线尺寸标注线：
单击相应工具集/面板中的受约束的线性尺寸标注工具，然后选择受约束基线模式。
● 所有工作空间：“尺寸标注/备注”工具集
● Spotlight 和 Landmark 工作空间：“基本”工具面板
从“工具”栏选择尺寸标注标准。
单击以设置测量起点。
单击以设置第一个测量的终点。
将光标移离对象，移至所需的偏移位置。
在二维视图中，尺寸标注线预览被约束为与图层平面的 X 轴或 Y 轴平行。在三维视图中，前两次单击用于确定要在其上放置尺寸标注的平面的 X 轴；移动光标可旋转尺寸标注平面。尺寸标注平面可以平行或垂直于图层平面，或对齐正被尺寸标注的三维对象的相邻面。
单击以放置第一条尺寸标注线。
将光标移至下一条线段的端点并单击以设置其端点。
继续设置线段。
双击以结束基线标注。
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