模式
工具
工作空间：工具集
受约束线性
受约束线性尺寸标注
● Fundamentals、Architect：尺寸标注/备注
● Landmark、Spotlight：基本和尺寸标注/备注
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模式 |
工具 |
工作空间：工具集 |
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受约束线性 |
受约束线性尺寸标注
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● Fundamentals、Architect：尺寸标注/备注 ● Landmark、Spotlight：基本和尺寸标注/备注 |
受约束线性模式可用于创建带单个测量值的尺寸标注线。
如要创建带单个测量值的受约束线性尺寸标注线：
单击“工具和模式”，然后选择一个尺寸标注标准。
单击以设置测量起点。
单击以设置测量终点。
将光标移离对象，移至所需的偏移位置。
在二维视图中，尺寸标注线预览被约束为与图层平面的 X 轴或 Y 轴平行。在三维视图中，前两次单击用于确定要在其上放置尺寸标注的平面的 X 轴；移动光标可旋转尺寸标注平面。尺寸标注平面可以平行或垂直于图层平面，或对齐正被尺寸标注的三维对象的相邻面。
单击以放置尺寸标注线。
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